Liczba defektów wykrytych na poziomie testowania podzielona przez liczbę defektów wykrytych w całym cyklu życia oprogramowania (na poziomie testów i później).
Akronim: OWD
Zobacz również: usterka uciekinier
Synonimy: odsetek wykrytych usterek (OWU)
The number of defects found by a test level, divided by the number found by that test level and any other means afterwards.
Acronym: DDP
See also: escaped defect
Synonyms: Fault Detection Percentage (FDP)